DTTフルパワーシナリオにおける暴走電子のリスク

公開:2025年12月31日 10:09
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ArXiv

分析

この論文は、DTT核融合施設のフルパワーへの移行における重要な安全上の懸念事項を強調しています。研究は、プラズマ電流の増加が、破壊中の暴走電子(RE)ビーム形成のリスクを大幅に増幅することを示しています。これは施設のコンポーネントに脅威をもたらします。この研究は、熱負荷の削減とRE回避のバランスを取り、特に制御された不純物注入を通じて、慎重な破壊緩和戦略の必要性を強調しています。

参照

アバランシェ増幅係数は十分に高く($G_ ext{av} \approx 1.3 \cdot 10^5$)、少量の5.5 Aのシード電流を、大量の不純物が存在する場合、約0.7 MAのマクロなREビームに変換します。