超高速レーザーを用いた連続3Dナノリソグラフィー
分析
本論文は、ライン照明時間焦点(Line-TF TPL)法を導入することにより、二光子リソグラフィー(TPL)における大きな進歩を示しています。主な革新は、フル帯域幅データストリーミングとグレースケールボクセル調整による連続3Dナノリソグラフィーを実現できることです。これにより、既存のTPLシステムの制限が解消され、より高速な製造速度、ステッチング欠陥の排除、コスト削減につながり、産業用途に適したものになります。サブ回折特性を持つセンチメートルスケールの構造のデモンストレーションは、この研究の実用的な影響を強調しています。
重要ポイント
参照
“この方法は、連続スキャンとグレースケールステッチングによってステッチング欠陥を排除し、以前のTPLシステムよりも1桁高い帯域幅でリアルタイムパターンストリーミングを提供します。”