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Tera Z工厂测量$B_s^0 \to φγ$的CP破坏参数的前景

发布:2025年12月30日 05:18
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ArXiv

分析

这篇文章讨论了在Tera Z工厂测量$B_s^0 \to φγ$衰变中CP破坏参数的潜力。重点是CP破坏的物理学以及在这一特定衰变通道中观察它的实验前景。这篇文章可能探讨了理论框架、实验挑战以及此类测量的潜在益处。

引用

这篇文章可能包含有关特定衰变通道($B_s^0 \to φγ$)、Tera Z工厂以及正在研究的CP破坏参数的详细信息。它还将包括关于理论预测和用于测量的实验技术的信息。