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第二代费米实验室恒定分数鉴别器读出ASIC的优化和性能表征

发布:2025年12月22日 23:15
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ArXiv

分析

这篇文章很可能呈现了为高能物理实验设计的专用集成电路(ASIC)的技术分析。重点是优化和表征ASIC的性能,特别是恒定分数鉴别器(CFD)读出。来源ArXiv表明这是一篇经过同行评审或预印本的研究论文。内容可能涉及详细的电路设计、仿真结果以及ASIC性能指标(如时间分辨率、功耗和噪声特性)的实验验证。“第二代”意味着对先前设计的改进。

引用

这篇文章可能包含有关ASIC的架构、设计选择和实验结果的技术细节。将包括具体的性能指标以及与前几代或其它设计的比较。