离网：用于前馈3D高斯喷溅的基元检测

这篇文章可能提出了一种新的3D高斯喷溅方法，重点在于以前馈方式检测基元。标题表明了对效率和潜在的实时应用的关注，因为“离网”通常意味着远离计算密集型方法。使用“基元”表示识别3D场景中的基本几何形状或元素。这项研究可能旨在提高3D场景重建和渲染的速度和性能。