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実験室炎の特性評価のためのデュアルコム分光法

公開:2025年12月24日 10:20
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ArXiv

分析

この記事は、2つの周波数コムを使用するデュアルコム分光法という技術を、実験室環境における炎の特性を分析し理解するために応用することについて論じている可能性が高いです。焦点は、科学的方法と研究のための高度な機器の使用にあります。

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