利用飞行时间光电流分析研究非晶半导体中的态密度与载流子迁移率

发布: 2025年12月16日 15:38

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分析

这项研究调查了非晶半导体中的基本性质，这对于理解和改进各种电子设备至关重要。该方法利用了飞行时间光电流分析，这是一种用于探测电荷传输动态的标准技术。

引用 / 来源

"Investigation of density of states and charge carrier mobility in amorphous semiconductors via time-of-flight photocurrent analysis."

ArXiv2025年12月16日 15:38

* 根据版权法第32条进行合法引用。

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